射頻測試工藝通常是手機等無線通訊類設備產線中最為復雜、影響大的流程，通常也是產線的瓶頸。射頻測試站通常由測試儀表、屏蔽室、測試軟件等幾部分構成，通常又可分為校準測試、綜合測試、天線測試等等幾類。

由于產能的要求，通常射頻測試工藝由多個相同的測試站并行運行。某個或某些測試工位的通過率偏低；產出降低就會導致產線瓶頸、生產成本劇增，而究其原因，大致可分為： 產品設計或物料原因、測試的問題（誤測問題）、射頻干擾等環境因素、測試的不確定問題。

電磁干擾/EMI是整個電子領域目前必須面臨和克服的一個問題，一般在無線通訊產品比如：手機、無線網卡、無線路由器、無線耳機、藍牙耳機、wi-fi、wimax、數據卡、對講機、RFID等等無線通訊類設備和無線通訊類模塊等在進行板測、終測過程中，都是通過使用射頻測試屏蔽箱/RF Shield Box來改善測試環境的。